Товары — Испытания и неразрушающий контроль
Установка контроля привнесенной дефектности РЛГЕ.442272.501 (Коммерческое наименование «Aura O»)
US$42,000-150,000
Size of substrates to be processed:
150
Minimum size of controlled particles:
On sapphire - 300 nm.
ООО "КВАНТ" 🇷🇺