Установка контроля привнесенной дефектности РЛГЕ.442272.501 (коммерческое наименование«Aura O») предназначена для обнаружения дефектов на поверхности пластины, определении их положений в привязке к системе координат и оценке размера каждого дефекта, что позволяет быстрее выявлять проблемы, связанные с технологическим процессом и устранять недостатки, влияющие на объем выпуска. Установка используется для контроля полированных пластин полупроводниковых материалов, таких как кремний, германий и арсенид галлия, а также для полированных пластин из сапфира. Позволяет производить качественный анализ поверхности и обнаруживать мельчайшие дефекты, что важно для обеспечения высокой производительности и надежности полупроводниковых устройств и других электронных компонентов.
Напишите что вам нужно и получите предложения от проверенных поставщиков